更大的儀器化壓入(IIT)測(cè)試范圍
根據(jù)儀器化壓入測(cè)試 (IIT) 的要求,微米壓痕儀非常適合于對(duì)硬度和彈性模量等機(jī)械性能的測(cè)量。它適用于塊狀樣品和薄膜,從軟材料到硬材料(金屬、陶瓷、聚合物),可以進(jìn)行大位移測(cè)量(最大 1 mm)??梢愿鶕?jù)需求添加劃痕測(cè)試模式。
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