安捷倫氣質(zhì)聯(lián)用儀Agilent 5975C技術(shù)參數(shù)
專利設(shè)計金石英四極桿增強了性能和可靠性，可達1050 u
新的痕量離子檢測技術(shù)降低了復(fù)雜基質(zhì)中的檢測限，提高了基線重復(fù)性。
惰性離子源-現(xiàn)在可以程序升溫至350度—增強了活性化合物和后洗脫組分的響應(yīng)。
同步SIM/掃描模式讓您在對感性趣離子進行高靈敏度選擇性監(jiān)測的同時，獲得可進行譜庫檢索的掃描數(shù)據(jù)。
新的氫EI信噪比指標，可以在更安全的條件下實現(xiàn)更快速的分析——不會影響分析質(zhì)量
所有電離模式都在一個自動化序列中；用標準EI離子源進行電子轟擊（EI）電離，AutoCI功能使CI像EI一樣容易
高效與初級組件
2006-2025 上海博華國際展覽有限公司版權(quán)所有（保留一切權(quán)利）
滬ICP備05034851號-57
